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发明名称 THERMOSTATIC TESTER FOR ELECTRONIC PART
摘要
申请公布号 JPH0354484(A) 申请公布日期 1991.03.08
申请号 JP19890189961 申请日期 1989.07.21
申请人 FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD 发明人 SHIMIZU MUNEHARU
分类号 G01R31/00;H01L21/66 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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