PROBE TERMINAL STRUCTURE FOR TESTING GLASS SUBSTRATE AND TEST METHOD USING THE SAME,申请号JP19890184662-传众专利搜索

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发明名称	PROBE TERMINAL STRUCTURE FOR TESTING GLASS SUBSTRATE AND TEST METHOD USING THE SAME
摘要
申请公布号	JPH0351768(A)	申请公布日期	1991.03.06
申请号	JP19890184662	申请日期	1989.07.19
申请人	HITACHI LTD	发明人	UENO ISAO;OWADA JUNICHI
分类号	G01R1/073;G01R31/02	主分类号	G01R1/073
代理机构		代理人
主权项
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