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发明名称
TEST SYSTEM FOR LSI CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH0348539(A)
申请公布日期
1991.03.01
申请号
JP19890184154
申请日期
1989.07.15
申请人
FUJITSU LTD
发明人
HAGIWARA TERUAKI;KINOSHITA TOSHIAKI
分类号
G01R31/319;G01R31/28;H04J3/14
主分类号
G01R31/319
代理机构
代理人
主权项
地址
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