发明名称 METHOD FOR TESTING HEAT RESISTANCE AND HUMIDITY RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR COMPONENT
摘要
申请公布号 JPH0341373(A) 申请公布日期 1991.02.21
申请号 JP19890177323 申请日期 1989.07.10
申请人 FUJITSU LTD 发明人 TOMINAGA NAOMITSU
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址
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