发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING OF TRANSIENTS OF HIGH-FREQUENCY CIRCUITS BY SAMPLING.
摘要 Procédé et appareil de mesure de phénomènes transitoires de circuits actifs et passifs de haute fréquence, par échantillonnage dans différentes positions de décalage dans le temps. Selon l'invention, le procédé se caractérise par la prise d'une double mesure dans chaque position de décalage dans le temps, la production à partir d'un des échantillons du signal équivalent de basse fréquence, et la compensation de la valeur d'état stable dudit signal équivalent de basse fréquence par un signal émis à partir de l'autre échantillon. Dans l'appareil comportant une unité d'échantillonnage et de maintien (3), un amplificateur (5) et un filtre (7), on a prévu un démultiplexeur (13) connecté après ledit amplificateur (5) et doté de deux sorties (133, 134), une desdites sorties (134) étant connectée à une entrée (52) dudit amplificateur (5) par l'intermédiaire d'une unité de rétroaction (14), ainsi qu'une unité de commande (6, 10) émettant des doubles signaux de chronométrage destinés à l'unité d'échantillonnage et de maintien (3), ainsi qu'un signal de commande destiné audit multiplexeur (13).
申请公布号 EP0413015(A1) 申请公布日期 1991.02.20
申请号 EP19900903396 申请日期 1990.02.22
申请人 MIKI MERESTECHNIKAI FEJLESZTO VALLALAT 发明人 DAKA, MIKLOS;SOMOGYI, GYULA;SZALAY, TIBOR
分类号 G01R13/32;G01R13/34 主分类号 G01R13/32
代理机构 代理人
主权项
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