AUTOMATIC TEST SYSTEM FOR TIME DIVISION SWITCHING CIRCUIT,申请号JP19890173453-传众专利搜索

发明名称	AUTOMATIC TEST SYSTEM FOR TIME DIVISION SWITCHING CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH0338192(A)	申请公布日期	1991.02.19
申请号	JP19890173453	申请日期	1989.07.04
申请人	NEC CORP	发明人	UMETSU AKIRA
分类号	H04Q1/24;H04Q11/04	主分类号	H04Q1/24
代理机构		代理人
主权项
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