发明名称 | 六点接触式平面度高精度测量方法及装置 | ||
摘要 | 六点接触式平面度高精度测量方法及其装置,采用第一次测量时所确定的平面作为全部测量的参考基准面。故不受被测件位置,运动状况的变化及其他因素的影响。测量精度高,且可连续自动测量。数据可由微机采集后实时处理,适宜于现场测量大型或超大型工件的平面度。 | ||
申请公布号 | CN1011541B | 申请公布日期 | 1991.02.06 |
申请号 | CN88104989.1 | 申请日期 | 1988.08.18 |
申请人 | 清华大学 | 发明人 | 刘兴占;梁晋文 |
分类号 | G01B7/34;G01B11/30 | 主分类号 | G01B7/34 |
代理机构 | 清华大学专利事务所 | 代理人 | 章瑞溥 |
主权项 | 1.一种平面度测量方法,其特征是测头布置成两排,每排三个测头,其中第一排连续布置两个固定测头,第二排中间位置布置一个固定测头,其他位置分别市置三个动测头,测头之间的距离为等距,测量时将被测平面按需要测量的点距分成N行,M列,且M为偶数,测量前将动测头的读数调为“零”,第一次测量从第一行第一列的交点开始,读出三个动测头的读数,然后将测量装置向右移动一个测量点距,读出动测头新的读数,如此依次测至被测面的边缘,然后以第二排的固定测头为圆心,将测量装置旋转90°,即可读出动测头的新的读数,然后再移动测量装置,如上法依次读出动测头的读数,直至测量装置测完整个被测面,然后将所测的各点数据按通式求出其归化值,再以此计算出平面度大小或直线度大小。 | ||
地址 | 北京市海淀区清华园 |