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发明名称 DYNAMIC PROCESS FOR THE GENERATION OF BIASED PSEUDO-RANDOM TEST PATTERNS FOR THE FUNCTIONAL VERIFICATION OF HARDWARE DESIGNS
摘要
申请公布号 IL94115(D0) 申请公布日期 1991.01.31
申请号 IL19900094115 申请日期 1990.04.18
申请人 IBM ISRAEL LIMITED 发明人
分类号 G06F11/22;G01R31/317;G01R31/3183;G06F11/30;G06F17/50;H03K3/84;(IPC1-7):H01L/ 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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