发明名称 ELECTROSTATIC BREAKDOWN TEST EQUIPMENT FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH0315773(A) 申请公布日期 1991.01.24
申请号 JP19900155227 申请日期 1990.06.15
申请人 HITACHI LTD;HITACHI MICRO COMPUT ENG LTD 发明人 ISAKA MINORU;ANDO KENJI
分类号 G01R31/26;G01R31/30 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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