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发明名称
SAMPLE INCLINATION CORRECTION SYSTEM OF SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE
摘要
申请公布号
JPH0312507(A)
申请公布日期
1991.01.21
申请号
JP19890147474
申请日期
1989.06.09
申请人
JEOL LTD
发明人
IWATSUKI MASASHI
分类号
G01B7/34;G01Q10/06;G01Q30/04;G01Q60/10;H01J37/20;H01J37/28
主分类号
G01B7/34
代理机构
代理人
主权项
地址
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