METHOD FOR FORMING TEST PATTERN OF CIRCUIT,申请号JP19890132617-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR FORMING TEST PATTERN OF CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH02311774(A)	申请公布日期	1990.12.27
申请号	JP19890132617	申请日期	1989.05.29
申请人	HITACHI LTD	发明人	IKEDA KOJI;HATAKEYAMA KAZUMI;HAYASHI TERUMINE
分类号	G01R31/3183;G01R31/28	主分类号	G01R31/3183
代理机构		代理人
主权项
地址