INSPECTING METHOD FOR HYBRID INTEGRATED CIRCUIT DEVICE,申请号JP19890122407-传众专利搜索

发明名称	INSPECTING METHOD FOR HYBRID INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号	JPH02300679(A)	申请公布日期	1990.12.12
申请号	JP19890122407	申请日期	1989.05.15
申请人	NEC CORP	发明人	KOIKE YASUHISA
分类号	G01R31/28;H01L21/82;H01L27/01;H05K3/00	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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