| 发明名称 |
CIRCUITO AMPLIATO DI MEMORIZZAZIONE A LAMPO PER TESTARE UN DRAM |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
IT9020564(A1) |
申请公布日期 |
1990.12.11 |
| 申请号 |
IT19900020564 |
申请日期 |
1990.06.07 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
CHO SOO-IN;CHOI HOON |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C11/401;G11C11/4072;G11C11/409;G11C11/4094;G11C11/4096;G11C29/34;H03F |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
