| 发明名称 |
METODO PER MEMORIZZARE DATI IN UN TEST DI UN DISPOSITIVO DI MEMORIA E CIRCUITO PER TESTARE UN DISPOSITIVO DI MEMORIA |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IT9020566(A1) |
申请公布日期 |
1990.12.11 |
| 申请号 |
IT19900020566 |
申请日期 |
1990.06.07 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
CHOI HOON |
| 分类号 |
G11C29/00;G05B;G11C7/00;G11C11/401;G11C11/409;G11C11/4094;G11C29/12;G11C29/34;G11C29/36;G11C29/50;G11C29/56 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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