MEASUREMENT OF ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE,申请号JP19890108244-传众专利搜索

发明名称	MEASUREMENT OF ELECTRICAL CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号	JPH02287165(A)	申请公布日期	1990.11.27
申请号	JP19890108244	申请日期	1989.04.27
申请人	NEC KANSAI LTD	发明人	YAGI TAKASHI
分类号	G01R31/26;G01R31/00	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
地址