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发明名称 TEST SYSTEM FOR ELECTRONIC SUB-ASSEMBLIES EQUIPED WITH MICROPROCESSOR
摘要
申请公布号 EP0292748(A3) 申请公布日期 1990.11.22
申请号 EP19880107176 申请日期 1988.05.04
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 BECK, HANS-JOACHIM, DIPL.-ING. (FH);EGER, ULRICH, DIPL.-ING. (FH);HAHN, JOSEF, DIPL.-ING. (FH);KAPPELER, ALFRED, DIPL.-ING. (FH)
分类号 G06F11/26;G06F11/36;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G06F11/26
代理机构 代理人
主权项
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