发明名称 |
IMMUNITY TEST USING FRAGMENT OF F(AB')2 |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH02276968(A) |
申请公布日期 |
1990.11.13 |
申请号 |
JP19890280006 |
申请日期 |
1989.10.30 |
申请人 |
TECHNICON INSTR CORP |
发明人 |
JIYOSEFU NIKORASU RIME;JIYAN PIEERU BUERUMAN;KUROODO ANRI MUUSUBOWA;SEZAARU RORENTSUO KAMUBIASO;PIEERU RUSHIAN MATSUSON |
分类号 |
G01N33/53;A61K39/00;A61K39/44;G01N33/543;G01N33/545;G01N33/553;G01N33/563;G01N33/68 |
主分类号 |
G01N33/53 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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