发明名称 Photographic structuring process.
摘要 Es wird ein einfaches Verfahren zur Variation der Breite einer Photoresiststruktur vorgeschlagen, bei dem in bekannter Weise hergestellte Photoresiststrukturen mit einem eine Aufweitungskomponente enthaltenden Agens behandelt werden, welches mit funktionellen Gruppen der Photoresiststruktur eine chemische Verknüpfung eingeht und so einen Volumenzuwachs der Photoresiststruktur bedingt. Die Aufweitungsbehandlung wird vorzugsweise mit einer Lösung bei Raumtemperatur durchgeführt, wobei das Ausmaß des Volumenzuwachses der Photoresiststrukturen durch Variation verschiedener Parameter steuerbar ist.
申请公布号 EP0395917(A2) 申请公布日期 1990.11.07
申请号 EP19900106853 申请日期 1990.04.10
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SEBALD, MICHAEL, DR. RER. NAT.;LEUSCHNER, RAINER, DR. RER. NAT.;SEZI, RECAI, DR.-ING.;BIRKLE, SIEGFRIED, DR. RER. NAT.;AHNE, HELLMUT, DR.
分类号 G03F7/40 主分类号 G03F7/40
代理机构 代理人
主权项
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