发明名称 Metal conductor structure having low electro-migration at high currents for semiconductor devices
摘要
申请公布号 USH842(H) 申请公布日期 1990.11.06
申请号 US19890374116 申请日期 1989.06.30
申请人 发明人
分类号 H01L23/485 主分类号 H01L23/485
代理机构 代理人
主权项
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