METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION OF CRYSTAL PLANE,申请号JP19890087456-传众专利搜索

发明名称	METHOD FOR MEASURING X-RAY DIFFRACTION OF CRYSTAL PLANE
摘要
申请公布号	JPH02266249(A)	申请公布日期	1990.10.31
申请号	JP19890087456	申请日期	1989.04.06
申请人	OKI ELECTRIC IND CO LTD	发明人	TETSUDA HIROSHI
分类号	G01N23/20;(IPC1-7):G01N23/20	主分类号	G01N23/20
代理机构		代理人
主权项
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