发明名称 SINGLE BEAM AC INTERFEROMETER
摘要 Un interféromètre à un seul rayon (10) comprend un rayon laser modulé en intensité (16) ayant un foyer pour chauffer une zone test (18) sur la surface d'un échantillon (12) produisant une bosse thermique (20). Un rayon laser de sonde non focalisée (30) est dirigé vers le solide suivant un angle et possède une zone de faisceaux supérieure à la zone foyer du faisceau de chauffage (16). L'échantillon (12) possède une surface réfléchissante qui réfléchit le faisceau sonde (30). Le faisceau réfléchi (31) comprend une partie de faisceau à courant alternatif (32) réfracté par la bosse thermique (20) et une partie de faisceau à courant continu (34) réfléchi de la surface non chauffée de l'échantillon (12). Le motif d'interférence (36) produit par le faisceau réfléchi (31) est détecté et traité pour obtenir des paramètres optiques, élastiques et thermiques de l'échantillon (12).
申请公布号 WO9010842(A1) 申请公布日期 1990.09.20
申请号 WO1990US01149 申请日期 1990.02.28
申请人 WAYNE STATE UNIVERSITY 发明人 THOMAS, ROBERT, L.;KUO, PAO-KUANG;FAVRO, LAWRENCE, D.
分类号 G01N21/27;G01H9/00;G01J9/02;G01N3/06;G01N21/17;G01N21/55;G01N29/24 主分类号 G01N21/27
代理机构 代理人
主权项
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