| 发明名称 |
METHOD FOR MEASURING MODE DISTRIBUTION CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH02238332(A) |
申请公布日期 |
1990.09.20 |
| 申请号 |
JP19890060257 |
申请日期 |
1989.03.13 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD;UNIV NAGOYA |
发明人 |
YAMAGUCHI NOBUHIDE;GOTO TOSHIO;MORI MASAKAZU |
| 分类号 |
G01R31/26;G01J3/28;H01L21/66;H01S5/042 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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