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发明名称 GENERATION OF TEST SIGNAL PATTERN
摘要
申请公布号 JPH02236469(A) 申请公布日期 1990.09.19
申请号 JP19890253710 申请日期 1989.09.28
申请人 TEXAS INSTR INC <TI> 发明人 SEO JIEI POUERU;JIYON AI HITSUKUMAN;JIERI JIEI KUROURII
分类号 G01R31/3183 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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