发明名称 Position-measuring installation.
摘要 Bei einer Positionsmeßeinrichtung gemäß Figur 2 wird ein Strahlenbündel an einem ersten Beugungsgitter (202) gebeugt. Die Teilstrahlenbündel (-&phis;, 0. und +&phis;) trefen auf ein zweites Beugungsgitter (203), das mit einem Tripelprisma (206) so abgestimmt ist, daß sich die Teilstrahlenbündel (-&phis;, 0. und +&phis;) in einem einzigen Punkt schneiden und wieder austreten. Beim anschließenden Durchtritt durch die Beugungsgitter (203 und 202) werden die Teilstrahlen jeweils nochmals gebeugt um dann zu interferieren. Die interferierenden Teilstrahlenbündel treffen auf eine Detektoreinrichtung (207), von der sie in zueinander phasenverschobene Meßsignale umgewandelt werden.
申请公布号 EP0387520(A2) 申请公布日期 1990.09.19
申请号 EP19900102167 申请日期 1990.02.03
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH 发明人 MICHEL, DIETER, DIPL.-ING. (FH);SPANNER, ERWIN, DIPL.-PHYS
分类号 G01B11/00;G01D5/38 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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