发明名称 Power MOSFET having a high breakdown voltage.
摘要 Die Durchbruchsfestigkeit wird dadurch erhöht, daß der Durchbruchstrom über den stark dotierten Teil (9) der Gatezone direkt in den Sourcekontakt (10) abfließt und nicht lateral unter der Sourcezone (3). Dies erreicht man, indem der starkdotierte Teil (9) mindestens am Boden (20) eines Kontaktlochs (8) angeordnet ist und ein vertikales Profil mit sehr geringem Krümmungsradius (r1) hat.
申请公布号 EP0387917(A2) 申请公布日期 1990.09.19
申请号 EP19900105744 申请日期 1990.03.13
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BERGMANN, RAINER, DIPL.-ING.;GANTIOLER, JOSEF, DIPL.-ING.;HEIL, HOLGER, DIPL.-PHYS.;STENGL, JENS-PETER
分类号 H01L21/336;H01L29/10;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
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