| 发明名称 |
Memory incorporating logic LSI and method for testing the same LSI |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US4956818(A) |
申请公布日期 |
1990.09.11 |
| 申请号 |
US19880251913 |
申请日期 |
1988.09.30 |
| 申请人 |
HITACHI, LTD. |
发明人 |
HATAYAMA, KAZUMI;HAYASHI, TERUMINE |
| 分类号 |
H01L21/66;G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;G06F11/22;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/56 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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