发明名称 制造快闪记忆体单元之方法
摘要 一种用来制造快闪记忆体单元之方法,其离子布植法于清洗法之前执行,用以蚀刻渠沟绝缘膜之突出部成一乳头状。因此,沿着渠沟绝缘膜,除了部份壕沟之外,其余之蚀刻率增加。所以,可防止渠沟绝缘膜中壕沟的产生及可最佳化浮动闸极之间隔。
申请公布号 TW200408071 申请公布日期 2004.05.16
申请号 TW091133033 申请日期 2002.11.11
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 李承撤;朴相昱
分类号 H01L21/8247;H01L21/8246 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 韩国