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发明名称 TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 JPH02208900(A) 申请公布日期 1990.08.20
申请号 JP19890028362 申请日期 1989.02.07
申请人 FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD 发明人 SAKATA MAKOTO;YAMAMOTO TAKAHIRO
分类号 G11C29/10;G11C29/00 主分类号 G11C29/10
代理机构 代理人
主权项
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