| 发明名称 |
DISPOSITIF ET PROCEDE DE LOCALISATION DE DEFAUTS POUR L'ESSAI DE PLAQUETTES DE CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2585476(B1) |
申请公布日期 |
1990.08.10 |
| 申请号 |
FR19860009679 |
申请日期 |
1986.07.03 |
| 申请人 |
FLUKE MFG CO INC JOHN |
发明人 |
MARSHALL H. SCOTT ET JOHN D. POLSTRA;POLSTRA JOHN D |
| 分类号 |
G06F11/22;G01R31/28;G06F11/25;G06F11/26;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/02;G05B15/02 |
主分类号 |
G06F11/22 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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