发明名称 |
Process of amorphisation to structure semiconductor body. |
摘要 |
<p>Das erfindungsgemäße Amorphisierungsverfahren findet Verwendung bei der Strukturierung und Isolierung von Halbleiterbauelementen in einer insbesondere aus ein- und polykristallinen Bereichen bestehenden Schichtenfolge. Durch Hochdosenimplantation werden in der Schichtenfolge amorphe, hochohmige Zonen erzeugt, die sowohl in der Halbleiterschichtenfolge ausgebildete Bauelemente voneinander elektrisch isolieren als auch zur Strukturierung von Leiterbahnen verwendet werden.</p> |
申请公布号 |
EP0381207(A2) |
申请公布日期 |
1990.08.08 |
申请号 |
EP19900101986 |
申请日期 |
1990.02.01 |
申请人 |
LICENTIA PATENT-VERWALTUNGS-GMBH |
发明人 |
KONIG, ULF, DR.-ING.;KUISL, MAXIMILIAN, DR.RER.NAT. |
分类号 |
H01L21/265;H01L21/76 |
主分类号 |
H01L21/265 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|