VLSI CHIP WITH TEST CIRCUITRY,申请号EP19880309101-传众专利搜索

发明名称	VLSI CHIP WITH TEST CIRCUITRY
摘要
申请公布号	EP0313230(A3)	申请公布日期	1990.08.01
申请号	EP19880309101	申请日期	1988.09.30
申请人	CONTROL DATA CORPORATION	发明人	TESKE, JUDY LYNN;BAXTER, DANIEL JAMES;DAANE, DON ADRIAN;BORCHERS, BRIAN DALE;ALLEN, DAVID HOWARD;MAAS, MICHAEL FRANCIS
分类号	G01R31/28;G01R31/3185;G06F1/04;H01L21/66;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G06F11/26	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
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