METHOD OF MEASURING LAYER THICKNESS,申请号SU19884413100-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF MEASURING LAYER THICKNESS
摘要
申请公布号	SU1580150(A1)	申请公布日期	1990.07.23
申请号	SU19884413100	申请日期	1988.02.15
申请人	LVOVSK LESOTEKH INST	发明人	AGRANOVSKIJ BORIS A,SU;BRANDORF VIKTOR G,SU;KIZILOV YURIJ N,SU;YAMPOLSKIJ ZHOZEF A,SU
分类号	G01B7/06	主分类号	G01B7/06
代理机构		代理人
主权项
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