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发明名称 MEASURING SYSTEM FOR CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASER
摘要
申请公布号 JPH02186234(A) 申请公布日期 1990.07.20
申请号 JP19890006177 申请日期 1989.01.12
申请人 NEC CORP 发明人 NOZAKI GAKUO
分类号 G01R31/26;G01J1/02;G01M11/00;H01S5/042 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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