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发明名称 TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH02171667(A) 申请公布日期 1990.07.03
申请号 JP19880327434 申请日期 1988.12.23
申请人 RICOH CO LTD 发明人 NAKANISHI HIROAKI
分类号 G01R31/28;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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