| 发明名称 |
TEST FACILITATION CIRCUIT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH02147876(A) |
申请公布日期 |
1990.06.06 |
| 申请号 |
JP19880302854 |
申请日期 |
1988.11.29 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
OKADA KEISUKE;TAKEUCHI SUMITAKA;KONO HIROYUKI |
| 分类号 |
G01R31/316;G01R31/28;H03M1/10 |
主分类号 |
G01R31/316 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
