发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MULTIWAVELENGTH EMISSION ANALYSIS
摘要
申请公布号 JPH02147843(A) 申请公布日期 1990.06.06
申请号 JP19880303177 申请日期 1988.11.29
申请人 RES DEV CORP OF JAPAN;ICHIMURA TSUTOMU;NAGOSHI TOSHIYUKI;MIYAZAWA HARUO 发明人 ICHIMURA TSUTOMU;NAGOSHI TOSHIYUKI;MIYAZAWA HARUO;INABA FUMIO
分类号 G01J3/443;G01J3/45;G01N21/76 主分类号 G01J3/443
代理机构 代理人
主权项
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