| 发明名称 |
RAM AND METHOD OF TESTING RAM |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB9007255(D0) |
申请公布日期 |
1990.05.30 |
| 申请号 |
GB19900007255 |
申请日期 |
1990.03.30 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS COMPANY LIMITED |
发明人 |
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| 分类号 |
G11C29/00;G11C8/12;G11C11/401;G11C11/4072;G11C11/409;G11C11/4096;G11C11/4097;G11C29/34;G11C29/36 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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