CHROMINANCE TO LUMINANCE DELAY AND GAIN CHARACTERISTIC MEASURING METHOD,申请号JP19890003614-传众专利搜索

发明名称	CHROMINANCE TO LUMINANCE DELAY AND GAIN CHARACTERISTIC MEASURING METHOD
摘要
申请公布号	JPH02140091(A)	申请公布日期	1990.05.29
申请号	JP19890003614	申请日期	1989.01.10
申请人	SONY TEKTRONIX CORP;TEKTRONIX INC	发明人	KONISHI TOMOO
分类号	H04N17/02	主分类号	H04N17/02
代理机构		代理人
主权项
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