MASS SPECTROMETRY DEVICE FOR SECONDARY ION,申请号JP19880283665-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	MASS SPECTROMETRY DEVICE FOR SECONDARY ION
摘要
申请公布号	JPH02132746(A)	申请公布日期	1990.05.22
申请号	JP19880283665	申请日期	1988.11.11
申请人	HITACHI LTD	发明人	OSE YOICHI;SANO HIROKI
分类号	H01J49/06;H01J49/26	主分类号	H01J49/06
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

BLOQUE DE HORMIGON PARA EXTERIORES PERFECCIONADO

ARADO MONOSURCO PERFECCIONADO

PERTIGA PARA LA INSPECCION DE REDES TELEFONICAS

VARILLA DE MANDO DE LONGITUD REGISTRABLE

DISPOSITIVO DE ACOPLAMIENTO PARA MANGOS EN UTILES DE LIMPIE-ZA

DISPOSITIVO PERFECCIONADO PARA LA BASCULACION DE LOS PARA- CHOQUES TRASEROS DE LOS VOLQUETES

RACOR PARA EMPALMES DE TUBOS PORTADORES DE CABLES ELECTRICOS

CONECTOR DE APRETADURA CONTROLADA PARA DERIVACIONES ELECTRI-CAS

PERFECCIONAMIENTOS EN TALADRADORAS, PARTICULARMENTE PARA AR-TICULOS DE PAPEL Y CARTON

PULSERA PERFECCIONADA DE EFECTOS TERAPEUTICOS

NUEVO DISPOSITIVO MECANICO EQUILIBRADOR PARA MUEBLES BASCU- LANTES

TRAMPA PARA MOSCAS Y OTROS INSECTOS

IMPRESORA PERFECCIONADA DE ACCIONAMIENTO ELECTRONICO

PARQUIMETRO PERFECCIONADO, EXPENDEDOR DE TIQUES

MAQUINA AMOLADORA PERFECCIONADA

BOMBA DE CALOR DE RENDIMIENTO MEJORADO

PINZA SOPORTE PARA LLAVEROS

SOFA CAMA PERFECCIONADO