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发明名称 IC TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号 JPH02128176(A) 申请公布日期 1990.05.16
申请号 JP19880280447 申请日期 1988.11.08
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 OGURA TOSHIAKI
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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