发明名称 Semiconductor memory circuit with sensing arrangement free from malfunction
摘要
申请公布号 US4926381(A) 申请公布日期 1990.05.15
申请号 US19880277736 申请日期 1988.11.30
申请人 NEC CORPORATION 发明人 FUJII, TAKEO
分类号 G11C11/401;G11C11/409;G11C11/4091 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
主权项
地址