| 摘要 |
<p>Ce dispositif comprend (a) un guide de lumière (2) formé sur un substrat (4) et comportant une couche guidante (8) destinée à véhiculer des faisceaux lumineux, intercalée entre une couche inférieure (6) et une couche supérieure ayant des indices de réfraction inférieurs à celui de la couche guidante, (b) une zone de mesure d'interaction (32) du guide de lumière destinée à être au contact du fluide (31), la couche supérieure au niveau de la zone de mesure présentant une épaisseur inférieure à la distance de pénétration de l'onde évanescente du faisceau lumineux guidé et en dehors de cette zone d'interaction une épaisseur supérieure à ladite distance de pénétration de cette même onde évanescente, et (c) un système optique du type interféromètre, formé au moins en partie dans le guide de lumière et comportant un circuit optique de référence (22, 26, 30) et un circuit optique de mesure (22, 32, 34) incluant la zone de mesure, pour mesurer le déphasage introduit par un changement d'indice effectif du mode guidé dû au fluide.</p> |
