MEMORY SELFTEST METHOD AND APPARATUS.

摘要

Procédé et appareil permettant de tester chaque emplacement mémoire d'un dispositif de mémoire. Le procédé consiste à générer chacune des adresses de mémoire correspondant à chaque emplacement mémoire dans un ordre pseudo-aléatoire, générer une série pseudo-aléatoire de mots de données, stocker l'un des mots de données à chaque emplacement mémoire, lire chaque mot de données de la mémoire, régénérer la série de mots de données, et comparer chaque mot de données lu au mot de données régénéré correspondant. L'invention se caractérise par la génération et le stockage d'une seconde série de mots de données, chacun des mots de données étant l'inverse des mots de données de la première série. La seconde série des mots de données sont lus de la mémoire et comparés aux données régénérées. L'invention se caractérise également par un nouveau registre à décalage linéaire de réinjection pour générer les adresses mémoire pseudo-aléatoires et peut générer l'adresse zéro. Un registre d'accumulation est utilisé pour stocker la position approximative des emplacements mémoire fonctionnant mal.