发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING A TWO-DIMENSIONAL REFLECTIVE STRUCTURE
摘要 <p>Um an einer Volumenschicht eine reflektierende Struktur zu messen, wird von einer Transducermatrix (1a) mindestens ein Schall- oder Ultraschall-Wellenpaket abgesandt, welches kohärent auf der Schicht (4) eintrifft. Die Echosignale an jedem Element (1) der Transducermatrix werden getrennt behandelt, aufgrund festgelegter Transducerelement-Volumenelement-Distanzen (rnm), durch eine korrelierende Verrechnung Signale entsprechend den Echos jedes einzelnen Volumenelementes (4a) auf alle Transducer der Matrix (1a) ermittelt. Durch zwei oder mehrere Sende-Wellenpakete und Auswertung der resultierenden Phasen- bzw. Frequenzdifferenzen werden weiter das zweidimensionale Geschwindigkeitsfeld der Struktur in der Schicht (4) bestimmt.</p>
申请公布号 WO1990004793(A1) 申请公布日期 1990.05.03
申请号 EP1989001246 申请日期 1989.10.19
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
地址