METHOD FOR TESTING TEMPERATURE OF ELECTRONIC EQUIPMENT,申请号JP19880272573-传众专利搜索

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发明名称	METHOD FOR TESTING TEMPERATURE OF ELECTRONIC EQUIPMENT
摘要
申请公布号	JPH02118467(A)	申请公布日期	1990.05.02
申请号	JP19880272573	申请日期	1988.10.27
申请人	FUJITSU LTD	发明人	KUBODERA MASARU
分类号	G01R31/00;G01R31/28	主分类号	G01R31/00
代理机构		代理人
主权项
地址

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