发明名称 METHOD AND EQUIPMENT FOR DETERMINING ELECTRICALLY ACTIVE ERROR SPACES OF SEMICONDUCATOR AND/OR INSULATOR SAMPLES AND DEPENDENCE ON FREQUENCY OF CAPACITY OF SAMPLES AND FOR REPRESSING GENERATING IMPULSES
摘要
申请公布号 HU900711(D0) 申请公布日期 1990.04.28
申请号 HU19900000711 申请日期 1990.02.08
申请人 MTA MUESZAKI FIZIKAI KUTATO INTEZETE,HU 发明人 DOZSA,LASZLO,HU
分类号 G01N27/22;G01R31/26 主分类号 G01N27/22
代理机构 代理人
主权项
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