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发明名称 TEST CIRCUIT OF INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH02107982(A) 申请公布日期 1990.04.19
申请号 JP19880261880 申请日期 1988.10.17
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 ITO JUNJI
分类号 G01R31/28;G01R31/3185 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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