发明名称 SOCKET FOR INSPECTION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH0299876(A) 申请公布日期 1990.04.11
申请号 JP19880252823 申请日期 1988.10.06
申请人 NEC CORP 发明人 YONEZAWA TAKASHI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址