SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH A TEST FUNCTION,申请号EP19870402872-传众专利搜索

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发明名称	SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH A TEST FUNCTION
摘要
申请公布号	EP0273821(A3)	申请公布日期	1990.03.28
申请号	EP19870402872	申请日期	1987.12.15
申请人	FUJITSU LIMITED	发明人	YAMASHITA, KOICHI
分类号	H01L21/66;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3185;G06F11/22;G06F11/27;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
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