发明名称 Apparatus and method for the measurement of weak magnetic fields dependent upon position and time.
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Messung von schwachen, orts- und zeitabhängigen Magnetfeldern, die von einer im Inneren eines Untersuchungsobjektes (1) befindlichen Quelle (Q) ausgehen. Die Einrichtung besitzt eine Sensoranordnung (7) mit wenigstens zehn in einem Kryostaten (64) aufgenommenen, jeweils mit einem DC-SQUID (63) induktiv gekoppelten Gradiometern erster Ordnung (59) und eine die Sensoranordnung (7) und das Untersuchungsobjekt (1) umschließende Kammer (8) zur Abschirmung magnetischer Felder, die für magnetische Wechselfelder mit einer Frequenz von 0,5 Hz einen Abschirmfaktor von wenigstens 10 aufweist, der mit zunehmender Frequenz ansteigt. Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zum Betrieb einer derartigen Einrichtung.</p>
申请公布号 EP0359864(A1) 申请公布日期 1990.03.28
申请号 EP19880115716 申请日期 1988.09.23
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 HOENIG, HANS ECKHARDT, DR.HABIL.;REICHENBERGER, HELMUT, DIPL.-PHYS., DR.RER.NAT.;SCHNEIDER, SIEGFRIED, DIPL.-PHYS., DR.RER.NAT.
分类号 A61B5/04;A61B5/05;G01R33/00;G01R33/035 主分类号 A61B5/04
代理机构 代理人
主权项
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